主な試験・測定機器

県央技術支援センターでは、製造技術に関する各種試験、測定機器を有しております。
これらの設備は、職員が企業の依頼により試験や評価を行う依頼試験に用いるほか、企業の方々が製品評価や研究開発にご利用することも可能です。（試験・測定機器の使用）

県央技術支援センターの設備紹介 [PDFファイル／575KB]

また、工業技術総合研究所の各技術支援センターにおいても、様々な試験・測定機器を有しており、同じく依頼試験や機器貸付を行っております。詳しくは、各支援センターにお問い合わせください。

工業技術総合研究所の設備機器一覧＜外部リンク＞

​万能材料試験機　

　　No.1 （株）島津製作所製      　　　　　 No.2 インストロンカンパニーリミテッド製
   　      オートグラフAG100kNI　　　　　　　　  5582型

　　​　　　　　　　

特徴
100kN（約10t）までの強度試験（引張、圧縮、曲げ）を行うことができます。引張試験は厚さ20mmまでの平板、あるいは直径19mmまでの丸棒に対応しています。
　　定盤の寸法(AG100kNI)：500×500mm　　　定盤の寸法（5582）：550×500mm

　　主な利用方法
　　材料の機械的性質（耐力、引張強さなど）の評価や製品の強度試験に使用します。

 硬さ試験機　

　　ロックウェル　　　　　　　　　マイクロビッカース　　　　        
　（株）ミツトヨ製　HR-521　　　（株）ミツトヨ製　HM-220　　　

　　ビッカース
　 （株）ミツトヨ製　HV-115

特徴
圧子（ダイヤモンドや鋼球、超硬合金球）を所定の荷重で試料に押し付け、そのときの変形量や変位量をもとに、硬さを求めます。ロックウェル硬さ（HRB、HRCなど）、ビッカース硬さ（HV）の試験が可能です。

　　主な利用方法

　　材質の違いや熱処理による硬さの比較ができます。

塩水噴霧試験機　

　　スガ試験機（株）製
　　CASS-90
　　

特徴
霧状の塩水を噴霧して、槽内の試験品がさびやすい環境をつくります。塩水は、中性に調整した5％塩化ナトリウム水溶液を使用します。

　　主な利用方法
　　表面処理（めっき、無機皮膜、塗装など）した製品等の塩水に対する耐食性評価に使用します。

フェライトスコープ　​

　　（株）フィッシャーインスツルメンツ製
　　　FMP30
　　

特徴
オーステナイト系ステンレス等の材料について、フェライトまたはマルテンサイトの含有率（メーカー独自の換算値）を、磁気的な方法により非破壊で簡便に評価できます。

　　主な利用方法
　　溶接や加工硬化による影響の評価に利用します。

三次元座標測定機　​​

　　（株）ミツトヨ製
　　　FALCIO-Apex707
　　

特徴
部品や製品にプローブを接触させて、寸法や形状の測定を行います。最大範囲：700×700×600mm。また断面形状をCADデータ（DXF、IGES）として  出力することもできます。

　　主な利用方法
　　設計寸法と製品寸法の照合や、製品(現物）を測定して図面を作製する場合などに利用します。

超精密表面粗さ測定装置　​

　　アメテック（株）製
　　フォームタリサーフ PGI 430
　　

特徴
ダイヤモンド触針（ R2μm）により接触式の粗さ測定を行います。

　　主な利用方法
　　金属加工面などについて、JIS規格等による表面粗さ（面粗度）やうねりなどを測定できます。

輪郭形状測定機　​

　　（株）ミツトヨ製
　　　コントレーサエクストリーム CV-4000H CNC
　　

特徴
触針によって製品の断面形状を測定します。測定範囲：X200×Y200×Z50（追従測定時約400）

　　主な利用方法
　　断面形状の計測や設計値との照合、2次元CADデータ（DXF、IGES）の出力などができます。ティーチング機能を使って複数ワークの測定を効率的に行えます。

CNC画像測定機　​

　　（株）ミツトヨ製
　　　QV-404-PRO
　　

特徴
CNCで位置制御されたCCDカメラにより、対象物の寸法・形状を測定します。対象物に応じて照明方法を選択できます。測定範囲：W400×D400×H250mm、可載重量：20kgまで、視野：6.27×4.7～　0.41×0.31mm

　　主な利用方法
　　投影機や測定顕微鏡と同様な用途（機械部品やプリント基板などの寸法・形状測定）に利用します。

レーザー顕微鏡　

　　　オリンパス（株）製
　　　OLS4100
　　　

特徴
凹凸のある試料表面を立体的に観察・測定できます。
非接触で表面粗さや形状の測定が可能です。

　　主な仕様
　　倍率： 108倍～17,280倍（表示画面上）
　　光源： 405nm半導体レーザー（クラス2）、白色LED
　　視野： 2.56mm～16μm（25×25視野まで連結可能）
　　試料： 重量3kgまで、高さ100mmまで、100×100mmまで
　　線粗さ： JIS B0601-2001、JIS B0601-1994
　　面粗さ： ISO25178　

デジタルマイクロスコープ　

　　　（株）キーエンス製
　　　　VHX-200
　　　

特徴
拡大観察、撮影、簡易寸法測定ができ、画像は電子データで保存できます。

　　主な利用方法
　　欠陥やキズを拡大観察する。細かな部品を拡大して形状や表面性状の観察を行うことができます。

金属顕微鏡　

　　　（株）ニコンインステック製
　　　　TME300U-NR
　　　

特徴
倒立形のため試料の扱いが楽です。また、観察画像を電子データで保存できます。​

• 主な利用方法
  金属の組織観察による熱処理状況の確認などに用います。
• 主な仕様
  倍率 50～1000倍　
  暗視野、明視野、ノマルスキー観察可

走査型電子顕微鏡　

　　　（株）日立ハイテクサイエンス製
　　　　SEA6000VX
　　　

特徴
φ130mmまでの試料を高倍率で観察できます。
また、微細部の元素分析を行うこともできます。

• 主な利用方法
  金属破断面の観察、微細異物の元素分析など。

• 主な仕様
  倍率：×5～×300,000
  最大試料寸法：φ200, H80mm
  分解能：2次電子像3.0nm、反射電子像4.0nm
  検出可能元素：Be～Cf

蛍光Ｘ線分析装置　　

　　　（株）日立ハイテクサイエンス製
　　　　SEA6000VX
　　　

特徴
試料の元素分析（定性）ができるほか、めっきの膜厚が非破壊で測定できます。

　　主な仕様
　　測定元素： 11(Na）～92(U)
　　試料形態： 固体・粉体
　　X線管球 ： 空冷式、W
　　最大試料寸法：200×250×H150 ｍｍ
　　可載重量： 5ｋｇまで

顕微赤外分光分析装置　

　　　日本分光（株）製
　　　FT/IR-4X＋IRT5200
　　　

特徴
物質の同定や分子構造の推定を行う装置です。付着物や混入物など異物の同定のほか、酸化劣化などの化学構造変化、結晶性や結晶化度、配向などの高次構造の解析もできます。

　　主な仕様
　　測定波数範囲：7800～350cm⁻¹
　　最高分解能：0.4cm⁻¹
　　付属品：一回反射ATRアタッチメント、高感度反射測定アタッチメント、ガスセル、赤外偏光子

【再掲】走査型電子顕微鏡　

　　　（株）日立ハイテク製
　　　　SU3800
　　　

特徴
φ130mmまでの試料を高倍率で観察できます。
また、微細部の元素分析を行うこともできます。

• 主な利用方法
  金属破断面の観察、微細異物の元素分析など。
• 主な仕様
  倍率：×5～×300,000
  最大試料寸法：φ200, H80mm
  分解能：2次電子像3.0nm、反射電子像4.0nm
  検出可能元素：Be～Cf