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競輪(公益財団法人JKA)補助事業
下記設備は競輪((公財)JKA)の補助事業(機械振興事業)により設置しました。
低周波EMC試験システム
設備名称 | 低周波EMC試験システム | ||
メーカ・型式 | (1)ファストトランジェント/バースト試験器:(株)ノイズ研究所・FNS-AX4-B63 | ||
(2)サージイミュニティ試験器:(株)ノイズ研究所・LSS-6330-C63A | |||
(3)電源周波数磁界イミュニティ試験器:narda、PMM・1008-01、1008-02 | |||
(4)電源高調波電流・フリッカ測定器:(株)横河電機・WT5000、(株)エヌエフ回路設計ブロック・DP4163 | |||
用途 | 製品のEMC(電磁両立性)性能を試験するための設備であり、低周波帯域のノイズ成分が製品に与えられた際の耐久性や、製品から発生し給電系統に影響を及ぼす可能性のあるノイズ成分を調査することができます。 | ||
仕様 |
(1)ファストトランジェント/バースト試験器: |
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(2)サージイミュニティ試験器: |
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(3)電源周波数磁界イミュニティ試験器: |
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(4)電源高調波電流・フリッカ測定器: |
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利用方法 | |||
(1)ファストトランジェント/バースト試験器 各機器【依頼試験】、【機器貸付】にご利用いただけます。 |
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設置年度 | 令和5年度 | ||
設置場所 | 中越技術支援センター |
デジタルマイクロスコープ
設備名称 | デジタルマイクロスコープ | |
メーカ・型式 | (株)エビデント・DSX1000 | |
用途 | 試料の形状や表面の状態の拡大像をデジタル画像として取り込み、モニター上で観察する光学顕微鏡で、材料を問わず前処理なしで低倍率から高倍率までの観察ができることから、製品開発や異常分析など、幅広い用途に役立てることができる。 | |
仕様 | ・高精細CMOSカメラ:1/1.2inch 230万画素 ・フレームレート:最大60fps ・レンズ(3種):倍率23~164倍(W.D.51.7mm)、70~700倍(W.D.12.0mm)、320~3280倍(W.D.3.0mm) ・角度可変観察:±90° ・電動XYステージ:240mm×220mm ・ステージ耐荷重:5kg ・観察方法:明視野、暗視野、MIX(明視野+暗視野)、偏射、偏光、微分干渉、透過照明ユニット |
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利用方法 |
【依頼試験】、【機器貸付】にご利用いただけます。 |
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設置年度 | 令和5年度 | |
設置場所 | 上越技術支援センター |
令和3年度以前の設備はこちら<外部リンク>